半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布

掲載誌名: 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌 29(5) (通号 161) 2007.8

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資料種別: 記事
タイトル: 半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布
著者・編者: 木村忠正
著者標目: 木村忠正
並列タイトル等: Basic course in reliability: Basic course in semiconductor device reliability (2) life distribution of LSI
タイトル（掲載誌）: 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
巻号年月日等（掲載誌）: 29(5) (通号 161) 2007.8
掲載巻: 29
掲載号: 5
掲載通号: 161
掲載ページ: 335～338
掲載年月日（W3CDTF）: 2007-08
ISSN（掲載誌）: 0919-2697
ISSN-L（掲載誌）: 0919-2697
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本信頼性学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZM1
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z14-2023
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 8915227
http://id.ndl.go.jp/bib/8915227
整理区分コード: 632