記事・論文
タイトル | 半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布 |
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著者 | 木村 忠正 |
出版年 | 2007-08 |
別タイトル | Basic course in reliability: Basic course in semiconductor device reliability (2) life distribution of LSI |
対象利用者 | 一般 |
資料の種別 | 記事・論文 |
掲載誌情報(ISSN形式) | 09192697 |
掲載誌情報(ISSNL形式) | 09192697 |
掲載誌情報(URI形式) | http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000086236-00 |
掲載誌名 | 信頼性 : 日本信頼性学会誌 |
掲載巻 | 29 |
掲載号 | 5 |
掲載通号 | 161 |
掲載ページ | 335~338 |
言語(ISO639-2形式) | jpn : 日本語 |