記事・論文
| タイトル | 半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布 |
|---|---|
| 著者 | 木村 忠正 |
| 出版年 | 2007-08 |
| 別タイトル | Basic course in reliability: Basic course in semiconductor device reliability (2) life distribution of LSI |
| 対象利用者 | 一般 |
| 資料の種別 | 記事・論文 |
| 掲載誌情報（ISSN形式） | 09192697 |
| 掲載誌情報（ISSNL形式） | 09192697 |
| 掲載誌情報（URI形式） | http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000086236-00 |
| 掲載誌名 | 信頼性 : 日本信頼性学会誌 |
| 掲載巻 | 29 |
| 掲載号 | 5 |
| 掲載通号 | 161 |
| 掲載ページ | 335～338 |
| 言語（ISO639-2形式） | jpn : 日本語 |
