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資料種別 記事・論文

半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布

木村 忠正

詳細情報

タイトル 半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布
著者 木村 忠正
出版年 2007-08
別タイトル Basic course in reliability: Basic course in semiconductor device reliability (2) life distribution of LSI
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09192697
掲載誌情報(ISSNL形式) 09192697
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000086236-00
掲載誌名 信頼性 : 日本信頼性学会誌
掲載巻 29
掲載号 5
掲載通号 161
掲載ページ 335~338
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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