書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 松田 敏弘杉山 裕也岩田 栄之 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- A test structure for analysis of asymmetry and orientation dependence of MOSFETs
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 107(194) 2007.8.23・24
- 掲載巻
- 107
- 掲載号
- 194