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資料種別 記事・論文

SoCの電源雑音向け微細埋め込み型連続時間雑音検出手法

深澤 光弥,松野 哲郎,植村 俊文 他

詳細情報

タイトル SoCの電源雑音向け微細埋め込み型連続時間雑音検出手法
著者 深澤 光弥
著者 松野 哲郎
著者 植村 俊文 他
シリーズ名 シリコン材料・デバイス
出版年 2007-08
別タイトル Fine-grained in-circuit continuous-time probing technique of dynamic supply variation in SoCs
件名(キーワード) 埋め込み型雑音検出回路
件名(キーワード) ダイナミック電源雑音
件名(キーワード) パワーサプライインテグリティ
件名(キーワード) 動作モード遷移
件名(キーワード) 動的周波数制御
件名(キーワード) Built-in probing circuit
件名(キーワード) Dynamic power supply noise
件名(キーワード) Power supply integrity
件名(キーワード) Operation-mode transition
件名(キーワード) Dynamic frequency scaling
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 107
掲載号 194
掲載ページ 85~90
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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