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資料種別 記事・論文

最新SOIデバイス技術と信頼性

堤 利幸

詳細情報

タイトル 最新SOIデバイス技術と信頼性
著者 堤 利幸
シリーズ名 先端LSI技術と信頼性
出版年 2007-07
別タイトル The latest SOI device technology and its reliability
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09192697
掲載誌情報(ISSNL形式) 09192697
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000086236-00
掲載誌名 信頼性 : 日本信頼性学会誌
掲載巻 29
掲載号 4
掲載通号 160
掲載ページ 226~233
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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