先端LSIにおける配線技術と信頼性 (先端LSI技術と信頼性)

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先端LSIにおける配線技術と信頼性

(先端LSI技術と信頼性)

国立国会図書館請求記号
Z14-2023
国立国会図書館書誌ID
8890572
資料種別
記事
著者
横川 慎二
出版者
東京 : 日本信頼性学会
出版年
2007-07
資料形態
掲載誌名
信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌 29(4) (通号 160) 2007.7
掲載ページ
p.190~197
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
横川 慎二
シリーズタイトル
著者標目
並列タイトル等
Interconnect technology and reliability of advanced LSI
タイトル(掲載誌)
信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
巻号年月日等(掲載誌)
29(4) (通号 160) 2007.7
掲載巻
29
掲載号
4