電解Ni/Auめっきを用いたBGA鉛フリーはんだ接合部の衝撃信頼性におよぼすNiめっき条件の影響

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電解Ni/Auめっきを用いたBGA鉛フリーはんだ接合部の衝撃信頼性におよぼすNiめっき条件の影響

国立国会図書館請求記号
Z74-B258
国立国会図書館書誌ID
8881521
資料種別
記事
著者
山本 健一ほか
出版者
東京 : エレクトロニクス実装学会
出版年
2007-07
資料形態
掲載誌名
エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging 10(4) (通号 66) 2007.7
掲載ページ
p.305~313
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
山本 健一
赤星 晴夫
加藤 隆彦 他
並列タイトル等
Effect of Ni plating condition on lead-free solder joints reliability of BGA using electroplated Ni/Au under impact load
タイトル(掲載誌)
エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
巻号年月日等(掲載誌)
10(4) (通号 66) 2007.7
掲載巻
10
掲載号
4
掲載通号
66