電子線およびX線によ...

電子線およびX線による結晶性材料の構造解析技術 (特集 解析・評価技術)

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電子線およびX線による結晶性材料の構造解析技術

(特集 解析・評価技術)

国立国会図書館請求記号
Z16-245
国立国会図書館書誌ID
8881188
資料種別
記事
著者
巻渕 陽一ほか
出版者
東京 : 富士電機技術開発本部 ; [1935]-2012
出版年
2007-05
資料形態
掲載誌名
富士時報 = Fuji electric journal 80(3) (通号 844) 2007.5
掲載ページ
p.182~185
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
巻渕 陽一
久保木 孔之
田森 妙
シリーズタイトル
並列タイトル等
Crystallographic analysis using an electron beam and X-ray beam
タイトル(掲載誌)
富士時報 = Fuji electric journal
巻号年月日等(掲載誌)
80(3) (通号 844) 2007.5
掲載巻
80
掲載号
3