ナノスケール物性計測顕微鏡--多探針走査トンネル顕微鏡 (ミニ特集 表面/ナノ構造の計測)

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ナノスケール物性計測顕微鏡--多探針走査トンネル顕微鏡

(ミニ特集 表面/ナノ構造の計測)

国立国会図書館請求記号
Z14-106
国立国会図書館書誌ID
4977077
資料種別
記事
著者
中山 知信ほか
出版者
東京 : 計測自動制御学会 ; 1962-
出版年
1999-12
資料形態
掲載誌名
計測と制御 : journal of the Society of Instrument and Control Engineers 38(12) 1999.12
掲載ページ
p.742~746
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
中山 知信
姜 春生
奥田 太一 他
タイトル(掲載誌)
計測と制御 : journal of the Society of Instrument and Control Engineers
巻号年月日等(掲載誌)
38(12) 1999.12
掲載巻
38
掲載号
12
掲載ページ
742~746