MOS界面準位の測定法 (半導体表面・界面状態の測定(技術ノート))
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- タイトル
- 著者・編者
- 生駒 俊明勝部 昭明
- シリーズタイトル
- タイトル（掲載誌）
- 応用物理
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 48(7) 1979.07
- 掲載巻
- 48
- 掲載号
- 7
- 掲載ページ
- p635～636