サイトメニューここからこのページの先頭です

ショートカットキーの説明を開始します。画面遷移や機能実行は、説明にあるショートカットキーを同時に押した後、Enterキーを押してください。ショートカットキーの説明を聞くには、Alt+0。トップ画面の表示には、Alt+1。ログインを行うには、Alt+2。簡易検索画面の表示には、Alt+3。詳細検索画面の表示には、Alt+4。障害者向け資料検索画面の表示には、Alt+5。検索結果の並び替えを行うには、Alt+6。国立国会図書館ホームページの表示には、Alt+7。検索結果の絞り込みを行うには、Alt+8。以上でショートカットキーの説明を終わります。

ナビゲーションここから

ナビゲーションここまで

本文ここから

資料種別 記事・論文

スリット光源によるのこの平面度検査法

宮沢 二郎,藤本 定正

詳細情報

タイトル スリット光源によるのこの平面度検査法
著者 宮沢 二郎
著者 藤本 定正
出版年 1979-04
注記 記事分類: その他の工学 ; 測定・測定器
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 03743543
掲載誌情報(ISSNL形式) 03743543
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000013203-00
掲載誌名 精密機械 : 精機学会誌
掲載巻 45
掲載号 4
掲載ページ p436~441
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

本文ここまで

Copyright © 2012 National Diet Library. All Rights Reserved.

フッター ここまで