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資料種別 記事・論文

帯電液滴エッチングで得られる高分子材料表面挙動のXPS・AFMによる解析

飯島 善時,成瀬 幹夫,境 悠治 他

詳細情報

タイトル 帯電液滴エッチングで得られる高分子材料表面挙動のXPS・AFMによる解析
著者 飯島 善時
著者 成瀬 幹夫
著者 境 悠治 他
出版年 2011-03
別タイトル Polymer surfaces etched by charged water droplets analyzed with X-ray photoelectron spectrometry and atomic force microscopy
件名(キーワード) X-ray photoelectron spectroscopy
件名(キーワード) Depth profiling
件名(キーワード) Electrospray droplet impact
件名(キーワード) Polyethyleneterephthalate
件名(キーワード) Polystyrene
件名(キーワード) Polymethylmethacrylate
件名(キーワード) Polyvinyl chloride
件名(キーワード) Sample surfaces roughness
件名(キーワード) Atomic force microscopy
件名(キーワード) Photoelectron peak line shape
件名(キーワード) X線光電子分光法
件名(キーワード) 深さ方向分析
件名(キーワード) 帯電液滴衝撃
件名(キーワード) 試料荒さ
件名(キーワード) 原子間力顕微鏡
件名(キーワード) ポリエチレンテレフタレート
件名(キーワード) ポリスチレン
件名(キーワード) ポリメチルメタクリレート
件名(キーワード) ポリ塩化ビニル
件名(キーワード) 光電子ピーク現状
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09117806
掲載誌情報(ISSNL形式) 09117806
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000048610-00
掲載誌名 X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
掲載通号 42
掲載ページ 221~228
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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