招待講演 高速記録再生回路を有するReRAMテストマクロ--Conductive Bridge ReRAM with 2.3GB/s Read throughput and 216MB/s Program-throughput (集積回路)

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招待講演 高速記録再生回路を有するReRAMテストマクロ--Conductive Bridge ReRAM with 2.3GB/s Read throughput and 216MB/s Program-throughput

(集積回路)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
11069464
資料種別
記事
著者
筒井 敬一ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-04
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111(6) 2011.4.18・19
掲載ページ
p.13~18
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
筒井 敬一
大塚 渉
宮田 幸児 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
ReRAM test macro with high speed read/program circuit: conductive bridge ReRAM with 2.3 GB/s read throughput and 216 MB/s program-throughput
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
111(6) 2011.4.18・19
掲載巻
111
掲載号
6