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資料種別 記事・論文

招待講演 高速記録再生回路を有するReRAMテストマクロ--Conductive Bridge ReRAM with 2.3GB/s Read throughput and 216MB/s Program-throughput

筒井 敬一,大塚 渉,宮田 幸児 他

詳細情報

タイトル 招待講演 高速記録再生回路を有するReRAMテストマクロ--Conductive Bridge ReRAM with 2.3GB/s Read throughput and 216MB/s Program-throughput
著者 筒井 敬一
著者 大塚 渉
著者 宮田 幸児 他
シリーズ名 集積回路
出版年 2011-04
別タイトル ReRAM test macro with high speed read/program circuit: conductive bridge ReRAM with 2.3 GB/s read throughput and 216 MB/s program-throughput
件名(キーワード) 次世代メモリ
件名(キーワード) 抵抗変化型メモリ
件名(キーワード) ReRAM
件名(キーワード) Conductive Bridge
件名(キーワード) Resistive Memory
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 111
掲載号 6
掲載ページ 13~18
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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