パラメータ空間の拘束...

パラメータ空間の拘束条件に基づく偏在点群の直線パターン認識とピッチ推定 (特集 多次元センシング技術とその産業応用)

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パラメータ空間の拘束条件に基づく偏在点群の直線パターン認識とピッチ推定(特集 多次元センシング技術とその産業応用)

国立国会図書館請求記号
Z16-1608
国立国会図書館書誌ID
11064606
資料種別
記事
著者
佐藤 健司ほか
出版者
東京 : 電気学会
出版年
2011-04
資料形態
掲載誌名
電気学会論文誌. D, 産業応用部門誌 = IEEJ transactions on industry applications 131(4) 2011.4
掲載ページ
p.515~521
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
佐藤 健司
高氏 秀則
杉原 淳 他
並列タイトル等
Structural pattern recognition and pitch estimation of aggregated dot patterns by using of constraints in parametric space
タイトル(掲載誌)
電気学会論文誌. D, 産業応用部門誌 = IEEJ transactions on industry applications
巻号年月日等(掲載誌)
131(4) 2011.4
掲載巻
131
掲載号
4