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資料種別 記事・論文

いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究--接触抵抗変動のモデリング

和田 真一,越田 圭治,Saindaa Norovlin 他

詳細情報

タイトル いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究--接触抵抗変動のモデリング
著者 和田 真一
著者 越田 圭治
著者 Saindaa Norovlin 他
シリーズ名 非線形問題
出版年 2011-03
別タイトル A study of degradation phenomenon of electrical contacts by some oscillating mechanisms: modeling about fluctuation of contact resistance
件名(キーワード) 劣化現象
件名(キーワード) 電気接点
件名(キーワード) 加振機構
件名(キーワード) 接触抵抗
件名(キーワード) 時系列データ
件名(キーワード) 非線形処理
件名(キーワード) degradaton phenomenon
件名(キーワード) electrical contact
件名(キーワード) oscillating mechanism
件名(キーワード) contact resistance
件名(キーワード) time-sequential data
件名(キーワード) non-linear processing
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 110
掲載号 465
掲載ページ 187~192
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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