蛍光測定によるポリフ...

蛍光測定によるポリフルオレン薄膜の光劣化過程の観察--残留酸素の影響 (有機エレクトロニクス)

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蛍光測定によるポリフルオレン薄膜の光劣化過程の観察--残留酸素の影響

(有機エレクトロニクス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
11046150
資料種別
記事
著者
中川 将紀ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-03-08
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(463) 2011.3.8
掲載ページ
p.17~20
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
中川 将紀
小林 隆史
永瀬 隆 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Photodegradation dynamics of polyfluorene thin films studied by means of photoluminescence spectroscopy: influence of residual oxygen
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
110(463) 2011.3.8
掲載巻
110
掲載号
463