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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 松村 透佐藤 祐一
- 並列タイトル等
- Appearance and relaxation of unusual values in the van der Pauw measurement of the inhomogeneous semiconductors by the FEM simulation
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 93(8) (通号 512) 2010.8
- 掲載巻
- 93
- 掲載号
- 8
- 掲載通号
- 512