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資料種別 記事・論文

PMOS/NMOSのプロセスばらつきを独立に検出するためのリング型バッファチェインを用いたオンチップモニタ

飯塚 哲也,名倉 徹,浅田 邦博

詳細情報

タイトル PMOS/NMOSのプロセスばらつきを独立に検出するためのリング型バッファチェインを用いたオンチップモニタ
著者 飯塚 哲也
著者 名倉 徹
著者 浅田 邦博
シリーズ名 集積回路
出版年 2010-07
別タイトル Buffer-ring-based all-digital on-chip monitor for PMOS and NMOS process variability effect
件名(キーワード) ばらつき
件名(キーワード) 経年劣化
件名(キーワード) オンチップモニタ
件名(キーワード) リング型バッファチェイン
件名(キーワード) NBTI
件名(キーワード) PBTI
件名(キーワード) variability
件名(キーワード) aging effects
件名(キーワード) on-chip monitor
件名(キーワード) buffer ring
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 110
掲載号 140
掲載ページ 15~20
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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