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資料種別 記事・論文

TL(Thru-Line)校正によるパッド部のディエンベディング手法

平野 拓一,岡田 健一,広川 二郎 他

詳細情報

タイトル TL(Thru-Line)校正によるパッド部のディエンベディング手法
著者 平野 拓一
著者 岡田 健一
著者 広川 二郎 他
シリーズ名 光エレクトロニクス
出版年 2010-07
別タイトル De-embedding of pads using Thru-Line (TL) calibration
件名(キーワード) TRL校正
件名(キーワード) オープンショート
件名(キーワード) ディエンベディング
件名(キーワード) 抽出
件名(キーワード) TL校正
件名(キーワード) パッド
件名(キーワード) 伝送線路
件名(キーワード) 伝搬定数
件名(キーワード) シリコンCMOS基板
件名(キーワード) ミリ波
件名(キーワード) TRL Calibration
件名(キーワード) Open-Short
件名(キーワード) De-embedding
件名(キーワード) Extraction
件名(キーワード) Thru-Line Calibration
件名(キーワード) Pad
件名(キーワード) Transmission Line
件名(キーワード) Propagation Constant
件名(キーワード) Si CMOS Substrate
件名(キーワード) Millimeter Wave
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 110
掲載号 156
掲載ページ 81~86
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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