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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
110(122)-110(131):2010.7.12-2010.7.16
記事
光学的手法によるIT...
光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価 (電子ディスプレイ)
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光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価
(電子ディスプレイ)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10786457
資料種別
記事
著者
宮沢 亮ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2010-07-12
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(123) 2010.7.12
掲載ページ
p.27~30
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価
著者・編者
宮沢 亮
田口 大
間中 孝彰 他
シリーズタイトル
電子ディスプレイ
著者標目
宮沢 亮
田口 大
間中 孝彰
並列タイトル等
Probing of carrier behaviors in ITO/PI/P3HT/Au using optical method
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
110(123) 2010.7.12
掲載巻
110
掲載号
123
掲載ページ
27~30
掲載年月日(W3CDTF)
2010-07-12
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
SHG
P3HT
Polyimide
電子トラップ
CMS
electron trap
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
EID2010-6
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
10786457
http://id.ndl.go.jp/bib/10786457
整理区分コード
632
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