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資料種別 記事・論文

中性子回折の基礎と応用(応用17)X線および中性子反射率測定によるシリコンを添加したダイヤモンドライクカーボン薄膜の構造解析

原田 雅史

詳細情報

タイトル 中性子回折の基礎と応用(応用17)X線および中性子反射率測定によるシリコンを添加したダイヤモンドライクカーボン薄膜の構造解析
著者 原田 雅史
出版年 2010-07
別タイトル Fundamentals and applications of neutron diffraction (applications 17) Structure analysis of silicon-doped diamond-like carbon films by X-ray and neutron reflectivity measurements
件名(キーワード) diamond-like carbon
件名(キーワード) silicon
件名(キーワード) friction
件名(キーワード) wear
件名(キーワード) X ray reflectivity
件名(キーワード) neutron reflectivity
件名(キーワード) scattering length density
件名(キーワード) surface
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 00338303
掲載誌情報(ISSNL形式) 00338303
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000000516-00
掲載誌名 Radioisotopes / 日本アイソトープ協会radioisotopes編集委員会 編
掲載巻 59
掲載号 7
掲載ページ 451~457
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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