サイトメニューここからこのページの先頭です

ショートカットキーの説明を開始します。画面遷移や機能実行は、説明にあるショートカットキーを同時に押した後、Enterキーを押してください。ショートカットキーの説明を聞くには、Alt+0。トップ画面の表示には、Alt+1。ログインを行うには、Alt+2。簡易検索画面の表示には、Alt+3。詳細検索画面の表示には、Alt+4。障害者向け資料検索画面の表示には、Alt+5。検索結果の並び替えを行うには、Alt+6。国立国会図書館ホームページの表示には、Alt+7。検索結果の絞り込みを行うには、Alt+8。以上でショートカットキーの説明を終わります。

ナビゲーションここから

ナビゲーションここまで

本文ここから

資料種別 記事・論文

Study of indentation damage in single crystal silicon carbide by using micro Raman spectroscopy

山口 誠,藤塚 将行,上野 滋 他

詳細情報

タイトル Study of indentation damage in single crystal silicon carbide by using micro Raman spectroscopy
著者 山口 誠
著者 藤塚 将行
著者 上野 滋 他
出版年 2010-07
別タイトル 単結晶SiCにおけるインデンテーション圧痕部の顕微ラマン分光
件名(キーワード) Micro Raman Spectroscopy
件名(キーワード) hardness
件名(キーワード) residual stress
件名(キーワード) mechanical damage
件名(キーワード) depth sending indentation
件名(キーワード) contact induced phenomena
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 0289243X
掲載誌情報(ISSNL形式) 0289243X
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000025561-00
掲載誌名 技研所報
掲載巻 46
掲載号 3
掲載通号 141
掲載ページ 88~91
言語(ISO639-2形式) eng : English

本文ここまで

Copyright © 2012 National Diet Library. All Rights Reserved.

フッター ここまで