干渉顕微鏡観察下の粗...

干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定

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干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定

国立国会図書館請求記号
Z16-466
国立国会図書館書誌ID
10768954
資料種別
記事
著者
安達 正明ほか
出版者
東京 : 精密工学会
出版年
2010-07
資料形態
掲載誌名
精密工学会誌 = Journal of the Japan Society for Precision Engineering / 会誌編集委員会 編 76(7) (通号 907) 2010.7
掲載ページ
p.834~839
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
安達 正明
河村 昌範
岩尾 雄太
並列タイトル等
Precision OPD change measurement in a 100-μm vertical-scanning range
タイトル(掲載誌)
精密工学会誌 = Journal of the Japan Society for Precision Engineering / 会誌編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
76(7) (通号 907) 2010.7
掲載巻
76
掲載号
7
掲載通号
907