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資料種別 記事・論文

オペアンプ対のブロック融合レイアウトとその製造ばらつき評価

宮川 昌士,下山 正家,淡野 公一 他

詳細情報

タイトル オペアンプ対のブロック融合レイアウトとその製造ばらつき評価
著者 宮川 昌士
著者 下山 正家
著者 淡野 公一 他
シリーズ名 VLSI設計技術
出版地(国名コード) JP
別タイトル Block-merge layout of an op-amp pair and its variability evaluation
出版年(W3CDTF) 2014-07
件名(キーワード) オペアンプ
件名(キーワード) アナログレイアウト
件名(キーワード) レイアウト依存ばらつき
件名(キーワード) Op-amp
件名(キーワード) Analog layout
件名(キーワード) Layout-dependent variability
NDLC ZN33
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSN-L形式) 09135685
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
掲載巻 114
掲載号 123
掲載ページ 207-212
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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