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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 垣内 拓大間瀬 一彦長岡 伸一
- 並列タイトル等
- Study of Local Valence Electronic States of Clean Si Surfaces and Ultrathin SiO₂ Films Grown on Si by Using Auger-Photoelectron Coincidence Spectroscopy
- タイトル（掲載誌）
- ぶんせき / 日本分析化学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 2014(7)=475:2014.7
- 掲載巻
- 2014
- 掲載号
- 7
- 掲載通号
- 475