サイトメニューここからこのページの先頭です

ショートカットキーの説明を開始します。画面遷移や機能実行は、説明にあるショートカットキーを同時に押した後、Enterキーを押してください。ショートカットキーの説明を聞くには、Alt+0。トップ画面の表示には、Alt+1。ログインを行うには、Alt+2。簡易検索画面の表示には、Alt+3。詳細検索画面の表示には、Alt+4。障害者向け資料検索画面の表示には、Alt+5。検索結果の並び替えを行うには、Alt+6。国立国会図書館ホームページの表示には、Alt+7。検索結果の絞り込みを行うには、Alt+8。以上でショートカットキーの説明を終わります。

ナビゲーションここから

ナビゲーションここまで

本文ここから

資料種別 記事・論文

最新表面科学講座(第16講)二次イオン質量分析法 : TOF-SIMSの紹介

石川 修司,竹口 裕子

詳細情報

タイトル 最新表面科学講座(第16講)二次イオン質量分析法 : TOF-SIMSの紹介
著者 石川 修司
著者 竹口 裕子
出版年 2013-10
別タイトル Secondary Ion Mass Spectrometry : Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
件名(キーワード) 飛行時間型二次イオン質量分析
件名(キーワード) 液体金属イオン銃
件名(キーワード) ガスクラスタイオンビーム
件名(キーワード) TOF-SIMS
件名(キーワード) Liquid metal ion gun
件名(キーワード) Gas cluster ion beam
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 0010180X
掲載誌情報(ISSNL形式) 0010180X
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000009713-00
掲載誌名 色材協会誌 = Journal of the Japan Society of Colour Material
掲載巻 86
掲載号 10
掲載ページ 386-391
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

本文ここまで

Copyright © 2012 National Diet Library. All Rights Reserved.

フッター ここまで