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資料種別 記事・論文

GaN中の点欠陥評価

徳田 豊

詳細情報

タイトル GaN中の点欠陥評価
著者 徳田 豊
シリーズ名 ワイドバンドギャップ材料の基礎研究の充実と新たな応用
出版年 2013-10
別タイトル Characterization of point defects in GaN
件名(キーワード) GaN
件名(キーワード) point defects
件名(キーワード) trap
件名(キーワード) Deep Level Transient Spectroscopy (DLTS)
件名(キーワード) Minority Carrier Transient Spectroscopy (MCTS)
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 03698009
掲載誌情報(ISSNL形式) 03698009
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000002415-00
掲載誌名 応用物理
掲載巻 82
掲載号 10
掲載ページ 862-865
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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