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資料種別 記事・論文

光応答測定による半導体内部構造解析方法

一番ヶ瀬 剛

詳細情報

タイトル 光応答測定による半導体内部構造解析方法
著者 一番ヶ瀬 剛
出版年 2009-12
別タイトル Analytic method of the optical response mode for semiconductor materials
件名(キーワード) analytic method
件名(キーワード) optical device
件名(キーワード) Ⅱ-Ⅵcompounds
件名(キーワード) CdTe
件名(キーワード) ZnSe
件名(キーワード) ITO
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 18814891
掲載誌情報(ISSNL形式) 18814891
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000008306580-00
掲載誌名 独立行政法人国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校紀要 国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校 編
掲載号 42
掲載ページ 21-28
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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