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資料種別 記事・論文

開放端同軸プローブによるスカラ反射係数に基づいた複素誘電率及び複素透磁率の非破壊同時測定法

陳 春平,徐 得名,穴田 哲夫

詳細情報

タイトル 開放端同軸プローブによるスカラ反射係数に基づいた複素誘電率及び複素透磁率の非破壊同時測定法
著者 陳 春平
著者 徐 得名
著者 穴田 哲夫
シリーズ名 エレクトロニクス分野におけるシミュレーション技術の進展論文特集
出版年 2013-06
別タイトル Scalar-Reflection-Coefficient-based Nondestructive and Simultaneous Measurement of Complex Permittivity and Permeability with Open-Ended Coaxial Prove
件名(キーワード) スカラ反射計
件名(キーワード) 複素誘電率
件名(キーワード) 複素透磁率
件名(キーワード) 同軸プローブ
件名(キーワード) 非破壊測定法
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 13452827
掲載誌情報(ISSNL形式) 13452827
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000108168-00
掲載誌名 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス / 電子情報通信学会 編
掲載巻 96
掲載号 6
掲載通号 546
掲載ページ 131-139
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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