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資料種別 記事・論文

フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察

佐藤 康夫,梶原 誠司

詳細情報

タイトル フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察
著者 佐藤 康夫
著者 梶原 誠司
シリーズ名 ディペンダブルコンピューティング
出版年 2013-06-21
別タイトル A Theoretical Discussion for Testability of a Degraded LSI in Field
件名(キーワード) フィールド
件名(キーワード) 劣化
件名(キーワード) BTI
件名(キーワード) テスト
件名(キーワード) 製造バラツキ
件名(キーワード) FIT
件名(キーワード) LSI
件名(キーワード) 半導体
件名(キーワード) Field
件名(キーワード) Degradation
件名(キーワード) Test
件名(キーワード) Fabrication variation
件名(キーワード) Semiconductor devices
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
掲載巻 113
掲載号 104
掲載ページ 13-18
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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