接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響 (信頼性)

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接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響

(信頼性)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
024342640
資料種別
記事
著者
澤田 滋ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-02-15
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(431):2013.2.15
掲載ページ
p.1-6
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
澤田 滋
筑地 茂樹
島田 茂樹 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Visualization of electric current in contact and effect of thin film on contact resistance
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
112(431):2013.2.15
掲載巻
112
掲載号
431