オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価 (VLSI設計技術)

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オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価

(VLSI設計技術)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
024263246
資料種別
記事
著者
松永 健作ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-01
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(375):2013.1.16・17
掲載ページ
p.63-68
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
松永 健作
工藤 優
太田 雄也 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Break Even Time Evaluation of Run-Time Power Gating Control by On-chip Leakage Monitor
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
112(375):2013.1.16・17
掲載巻
112
掲載号
375