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資料種別 記事・論文

プリント基板の電気検査におけるプローブピン位置補正の遺伝的アルゴリズムを用いた最適化

森澤 雅志,片桐 英樹,羽森 寛 他

詳細情報

タイトル プリント基板の電気検査におけるプローブピン位置補正の遺伝的アルゴリズムを用いた最適化
著者 森澤 雅志
著者 片桐 英樹
著者 羽森 寛 他
シリーズ名 回路とシステム
出版年 2013-01
別タイトル Pin prove position optimization through genetic algorithm in printed circuit board electrical inspections
件名(キーワード) プリント基板
件名(キーワード) 電気検査
件名(キーワード) 位置補正
件名(キーワード) 狭ピッチ
件名(キーワード) printed circuit board
件名(キーワード) electrical inspection
件名(キーワード) position correction
件名(キーワード) narrow pitch
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 112
掲載号 418
掲載ページ 133-136
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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