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資料種別 記事・論文

ソースフィールドプレート構造AlGaN/GaN HEMTのラグ現象,電流コラプス及び耐圧特性の解析

塙 秀之,小野寺 啓,堀尾 和重

詳細情報

タイトル ソースフィールドプレート構造AlGaN/GaN HEMTのラグ現象,電流コラプス及び耐圧特性の解析
著者 塙 秀之
著者 小野寺 啓
著者 堀尾 和重
シリーズ名 電子デバイス
出版年 2013-01
別タイトル Analysis of Lag Phenomena, Current Collapse and Breakdown Characteristics in Source-Field-Plate AlGaN/GaN HEMTs
件名(キーワード) GaN
件名(キーワード) HEMT
件名(キーワード) フィールドプレート
件名(キーワード) ラグ現象
件名(キーワード) 電流コラプス
件名(キーワード) 耐圧特性
件名(キーワード) 2次元解析
件名(キーワード) Field plate
件名(キーワード) lag phenomena
件名(キーワード) current collapse
件名(キーワード) breakdown voltage
件名(キーワード) two-dimensional analysis
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 112
掲載号 380
掲載ページ 57-62
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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