FETの寄生素子を考慮した伝送線路帰還FET発振回路のQファクタシミュレーションとSSB雑音測定 (電子デバイス)

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FETの寄生素子を考慮した伝送線路帰還FET発振回路のQファクタシミュレーションとSSB雑音測定

(電子デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
024261889
資料種別
記事
著者
南 昂孝ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-01
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(380):2013.1.17・18
掲載ページ
p.11-16
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
南 昂孝
崎原 孫周
ウリン トヤ 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Q Factor Simulation and SSB Noise Measurement for Transmission Line Feedback FET Oscillators with FET Parasitic Elements
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
112(380):2013.1.17・18
掲載巻
112
掲載号
380