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資料種別 記事・論文

微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 時系列変動データの解析(27)

和田 真一,越田 圭治,永井 祥子 他

詳細情報

タイトル 微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 時系列変動データの解析(27)
著者 和田 真一
著者 越田 圭治
著者 永井 祥子 他
シリーズ名 機構デバイス
出版年 2013-01-25
別タイトル Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using Micro-Sliding Mechanisms : Analysis of Time-Sequential Fluctuation Data (27)
件名(キーワード) 電気接点
件名(キーワード) 微小振動
件名(キーワード) 接触抵抗
件名(キーワード) 微摺動機構
件名(キーワード) 最小摺動振幅
件名(キーワード) 位相面解析
件名(キーワード) リミット・サイクル
件名(キーワード) 分岐
件名(キーワード) electrical contact
件名(キーワード) micro-oscillation
件名(キーワード) contact resistance
件名(キーワード) micro-sliding mechanism
件名(キーワード) minimal sliding amplitude
件名(キーワード) phase plane analysis
件名(キーワード) limit cycle
件名(キーワード) bifurcation
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 112
掲載号 415
掲載ページ 9-14
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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