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資料種別 記事・論文

陽電子消滅寿命法による膜構造評価

伊藤 賢志

詳細情報

タイトル 陽電子消滅寿命法による膜構造評価
著者 伊藤 賢志
シリーズ名 特集 膜特性評価の新展開
出版年 2013-01
別タイトル Positron Annihilation Lifetime Technique as a Sensitive Nanoporosimetry for Membranes
件名(キーワード) positron annihilation
件名(キーワード) positronium lifetime
件名(キーワード) nanoscaled pores/holes
件名(キーワード) thin film
件名(キーワード) membrane
件名(キーワード) low-energy pulsed positron beam
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 03851036
掲載誌情報(ISSNL形式) 03851036
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000028640-00
掲載誌名 膜 = Membrane / 膜編集委員会 編
掲載巻 38
掲載号 1
掲載通号 223
掲載ページ 17-24
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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