Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定 (有機半導体特集)

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Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定(有機半導体特集)

国立国会図書館請求記号
Z74-B666
国立国会図書館書誌ID
024250203
資料種別
記事
著者
舟橋 正浩
出版者
東京 : 日本液晶学会事務局
出版年
2013
資料形態
デジタル
掲載誌名
液晶 : 日本液晶学会誌 : journal of the Japanese Liquid Crystal Society / 日本液晶学会編集委員会 編 17(1):2013
掲載ページ
p.55-66
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
舟橋 正浩
シリーズタイトル
著者標目
並列タイトル等
Measurement of Carrier Mobility in Liquid-Crystalline Systems Using Time-of-Flight Methods
タイトル(掲載誌)
液晶 : 日本液晶学会誌 : journal of the Japanese Liquid Crystal Society / 日本液晶学会編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
17(1):2013
掲載巻
17
掲載号
1