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放射光励起走査トンネル顕微鏡による高分解能元素分析 (特集 SPMのフロンティア : 多様な材料系の研究ニーズに対応するSPM物性計測の最先端)

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放射光励起走査トンネル顕微鏡による高分解能元素分析(特集 SPMのフロンティア : 多様な材料系の研究ニーズに対応するSPM物性計測の最先端)

国立国会図書館請求記号
Z16-896
国立国会図書館書誌ID
023682555
資料種別
記事
著者
江口 豊明ほか
出版者
東京 : 日本顕微鏡学会
出版年
2012
資料形態
掲載誌名
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 47(1):2012
掲載ページ
p.14-17
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
江口 豊明
奥田 太一
木下 豊彦 他
並列タイトル等
High-Resolution Element specific Analysis with Scanning Tunneling Microscope Assisted by Synchrotron Radiation Light
タイトル(掲載誌)
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
47(1):2012
掲載巻
47
掲載号
1