サイトメニューここからこのページの先頭です

ショートカットキーの説明を開始します。画面遷移や機能実行は、説明にあるショートカットキーを同時に押した後、Enterキーを押してください。ショートカットキーの説明を聞くには、Alt+0。トップ画面の表示には、Alt+1。ログインを行うには、Alt+2。簡易検索画面の表示には、Alt+3。詳細検索画面の表示には、Alt+4。障害者向け資料検索画面の表示には、Alt+5。検索結果の並び替えを行うには、Alt+6。国立国会図書館ホームページの表示には、Alt+7。検索結果の絞り込みを行うには、Alt+8。以上でショートカットキーの説明を終わります。

ナビゲーションここから

ナビゲーションここまで

本文ここから

資料種別 記事・論文

ナノ立体形状の定量計測 : 探針補正技術と高感度光干渉変位センサー

渡辺 正浩,中田 俊彦

詳細情報

タイトル ナノ立体形状の定量計測 : 探針補正技術と高感度光干渉変位センサー
著者 渡辺 正浩
著者 中田 俊彦
シリーズ名 特集 測る : 社会・産業分野に貢献する計測技術
出版年 2012-02
別タイトル Quantitative Measurement of 3D Nanostructure Devices : Probe Deformation Correction Technique and Highly Sensitive Interferometric Displacement Sensor
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 03675874
掲載誌情報(ISSNL形式) 03675874
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000020045-00
掲載誌名 日立評論
掲載巻 94
掲載号 2
掲載通号 1080
掲載ページ 204-207
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

本文ここまで

Copyright © 2012 National Diet Library. All Rights Reserved.

フッター ここまで