原子レベル計測のための試料自動作製技術 : FIBマイクロサンプリング｢NB5000｣ (特集 測る : 社会・産業分野に貢献する計測技術)
インターネットで読む
すぐに読む
国立国会図書館デジタルコレクション
全国の図書館の所蔵
国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。
所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 富松 聡関原 雄會澤 恵 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Auto Fabrication Technology of Electron Microscope Specimen for Atomic Order Measurement
- タイトル（掲載誌）
- 日立評論
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 94(2)=1080:2012.2
- 掲載巻
- 94
- 掲載号
- 2