二次電子による原子分解能像観察 : 走査透過電子顕微鏡｢HD-2700｣ (特集 測る : 社会・産業分野に貢献する計測技術)
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 稲田 博実今野 充田村 圭司 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Atomic Resolution Secondary Electron Imaging in Aberration Corrected STEM, HD-2700
- タイトル（掲載誌）
- 日立評論
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 94(2)=1080:2012.2
- 掲載巻
- 94
- 掲載号
- 2