サイトメニューここからこのページの先頭です

ショートカットキーの説明を開始します。画面遷移や機能実行は、説明にあるショートカットキーを同時に押した後、Enterキーを押してください。ショートカットキーの説明を聞くには、Alt+0。トップ画面の表示には、Alt+1。ログインを行うには、Alt+2。簡易検索画面の表示には、Alt+3。詳細検索画面の表示には、Alt+4。障害者向け資料検索画面の表示には、Alt+5。検索結果の並び替えを行うには、Alt+6。国立国会図書館ホームページの表示には、Alt+7。検索結果の絞り込みを行うには、Alt+8。以上でショートカットキーの説明を終わります。

ナビゲーションここから

ナビゲーションここまで

本文ここから

資料種別 記事・論文

Auイオン照射によるSi表面改質素過程のリアルタイムSTM観察

神岡 武文,礒野 文哉,渡邉 孝信 他

詳細情報

タイトル Auイオン照射によるSi表面改質素過程のリアルタイムSTM観察
著者 神岡 武文
著者 礒野 文哉
著者 渡邉 孝信 他
シリーズ名 特集 Au/Si界面の科学
出版年 2012-03
別タイトル Real-Time Scanning Tunneling Microscopy of Au Ion Irradiation Effects on Si(111) Surface
件名(キーワード) ion implantation
件名(キーワード) scanning tunneling microscopy
件名(キーワード) diffusion
件名(キーワード) surface reconstruction
件名(キーワード) point defects
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 03885321
掲載誌情報(ISSNL形式) 03885321
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000033734-00
掲載誌名 表面科学 / 日本表面科学会 編
掲載巻 33
掲載号 3
掲載ページ 153-158
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

本文ここまで

Copyright © 2012 National Diet Library. All Rights Reserved.

フッター ここまで