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資料種別 記事・論文

IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法

新谷 道広,佐藤 高史

詳細情報

タイトル IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法
著者 新谷 道広
著者 佐藤 高史
シリーズ名 VLSI設計技術
出版年 2012-03
別タイトル Global Process Parameter Estimation Using IDDQ Current Signature
件名(キーワード) IDDQテスト
件名(キーワード) 統計的リーク電流解析
件名(キーワード) ベイズの定理
件名(キーワード) IDDQ Testing
件名(キーワード) Statistical Leakage Current Analysis
件名(キーワード) Bayes' theorem
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSNL形式) 09135685
掲載誌情報(URI形式) http://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 111
掲載号 450
掲載ページ 1-6
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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